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电感耦合等离子体串联质谱法快速测定高纯铪中20种痕量杂质元素
研究报告 | 更新时间：2026-10-14

    • 电感耦合等离子体串联质谱法快速测定高纯铪中20种痕量杂质元素

    • Rapid Determination of 20 Trace Impurity Elements in High-purity Hafnium by Inductively Coupled Plasma Tandem Mass Spectrometry

    • 分析测试学报   2026年

    • DOI：10.12452/j.fxcsxb.26060504    

      中图分类号： O657.6

    • 收稿：2026-06-05，

      修回：2026-08-12，

      录用：2026-09-21，

    移动端阅览

  • 刘捷, 杨萌, 李维涵, 叶可奇. 电感耦合等离子体串联质谱法快速测定高纯铪中20种痕量杂质元素[J/OL]. 分析测试学报, 2026. DOI： 10.12452/j.fxcsxb.26060504.

    LIU Jie, YANG Meng, LI Wei-han, YE Ke-qi. Rapid Determination of 20 Trace Impurity Elements in High-purity Hafnium by Inductively Coupled Plasma Tandem Mass Spectrometry[J/OL]. Journal of Instrumental Analysis, 2026. DOI： 10.12452/j.fxcsxb.26060504.

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