中国科学院上海硅酸盐研究所 ,冶金部北京钢铁研究总院
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吉昂, 谢荣厚. 数学校正在X射线荧光光谱分析钢铁样中的应用[J]. 分析测试学报, 1986,(4):31-35.
吉昂, 谢荣厚. 数学校正在X射线荧光光谱分析钢铁样中的应用[J]. 分析测试学报, 1986,(4):31-35. DOI:
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<正> 本文以PW1600多道X射线荧光光谱仪测定的34个钢铁样为研究对象,系统地研究了Lachance—Traill方程(以下简称L正>
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