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利用X射线光谱探测Mo2C@MoSe2异质结电极
研究报告 | 更新时间:2024-11-11
    • 利用X射线光谱探测Mo2C@MoSe2异质结电极

    • X-ray Spectroscopically Probing Mo2C@MoSe2 Heterojunction Electrodes

    • 分析测试学报   2024年43卷第10期 页码:1618-1625
    • DOI:10.12452/j.fxcsxb.240805280    

      中图分类号: O657.3
    • 纸质出版日期:2024-10-15

      收稿日期:2024-08-05

      修回日期:2024-09-18

    移动端阅览

  • 曹宇杨,魏世强,蒋伟,Peter Joseph Chimtali,闫紫薇,周权,陈双明,宋礼.利用X射线光谱探测Mo2C@MoSe2异质结电极[J].分析测试学报,2024,43(10):1618-1625. DOI: 10.12452/j.fxcsxb.240805280.

    CAO Yu-yang,WEI Shi-qiang,JIANG Wei,Chimtali Peter Joseph,YAN Zi-wei,ZHOU Quan,CHEN Shuang-ming,SONG Li.X-ray Spectroscopically Probing Mo2C@MoSe2 Heterojunction Electrodes[J].Journal of Instrumental Analysis,2024,43(10):1618-1625. DOI: 10.12452/j.fxcsxb.240805280.

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