中国地质科学院矿床地质研究所 ,中国地质科学院矿床地质研究所
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周剑雄, 方业龙. 显微镜上的新附件——介绍MM-1型显微刻样器[J]. 分析测试学报, 1983,(1):59-60.
周剑雄, 方业龙. 显微镜上的新附件——介绍MM-1型显微刻样器[J]. 分析测试学报, 1983,(1):59-60. DOI:
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<正> MM—1型显微刻样器是由中国地质科学院矿床地质所最近试制的新产品,现已通过鉴定,将由该所组织投产。MM—1型显微刻样器是透光和反光显微镜上的一个新附件。主要用于在显微镜下对试样表面刻划标记,以指示所需目的物,解决在电子探针、扫描电镜、激光光谱、离正>
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