上海市测试技术研究所
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罗兴华. 上海多国仪器仪表展览会的表面分析谱仪[J]. 分析测试学报, 1983,(4):61-62.
罗兴华. 上海多国仪器仪表展览会的表面分析谱仪[J]. 分析测试学报, 1983,(4):61-62. DOI:
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<正> 今年四月在上海举行的多国仪器仪表展览会上,英国VG公司和KRATOS公司展出了ESCALAB—MK2和XSAM—800测表面元素组份的多功能谱仪,都具有X射线光电子能谱(XPS或称ESCA)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)三种主要的表面分析功能,能全面、准确地提供分析结果。正>
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