上海市测试技术研究所
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薛正镠. 离子探针测定地质样品的同位素丰度比[J]. 分析测试学报, 1984,(4):48-50.
薛正镠. 离子探针测定地质样品的同位素丰度比[J]. 分析测试学报, 1984,(4):48-50. DOI:
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<,正,>, 英国V.G公司的MM600型及MM1200型同位素质谱仪均属精确测定同位素丰度的较新型仪器,精密度较高(一般可达千分之零点几),但要将待测物质制成气态形式(SO,2,SF,6,CO等),较为麻烦。离子探针分析仪与一般的同位素质谱仪相比,具有下列优点:
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