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卢华荣. 氧化镁粒度分布测定[J]. 分析测试学报, 1984,(4):37-40.
卢华荣. 氧化镁粒度分布测定[J]. 分析测试学报, 1984,(4):37-40. DOI:
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<正> 氧化镁是硅钢片绝缘涂层的主要原料。氧化镁粉末的粒度分布,是决定绝缘涂层性能的主要因素之一。利用扫描电镜分辨率高的性能,可直接测定氧化镁一次粒子的粒度分布。本文运用扫描电镜测定了进口与国产的10种氧化镁样品,探明了一次粒子的粒度分布与氧化镁涂敷性能的关系,为改进氧化镁生产工艺提供了依据。正>
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