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刘翠茹. 306型ICP发射光谱分析系统[J]. 分析测试学报, 1985,(3):13.
刘翠茹. 306型ICP发射光谱分析系统[J]. 分析测试学报, 1985,(3):13. DOI:
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<正> 据1984年第1期《日立评论》介绍,已研制成功306型ICP发射光谱分析系统。该装置内安有2台分光器,采用微电脑控制扫描方式,一分钟可测定50条谱线的强度。若用2条谱正>
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