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熊兴南, 曲培秀. 氢化物发生—ICP发射光谱测定纯钨中砷[J]. 分析测试学报, 1986,(3):55-56.
熊兴南, 曲培秀. 氢化物发生—ICP发射光谱测定纯钨中砷[J]. 分析测试学报, 1986,(3):55-56. DOI:
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<正> 纯钨中杂质测定,国内外主要采用电弧发射光谱法,As的测定多以2349.84 A作分析线,测定下限约为0.001%,该谱线因受W2349.82A重迭干扰,故测定下限与准确度均难以满足工艺要求。ICP发射光谱对As、Sb、Pb等元素检正>
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