内标法用于Nb<sub>3</sub>Si合金中Nb及Si的ICP-AES测定

郭照斌

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内标法用于Nb₃Si合金中Nb及Si的ICP-AES测定

更新时间：2023-07-17

- 内标法用于Nb₃Si合金中Nb及Si的ICP-AES测定
- 暂无标题
- 分析测试学报 1987年第3期页码：34-37
- 作者机构：
  
  中国科学院物理研究所
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郭照斌. 内标法用于Nb₃Si合金中Nb及Si的ICP-AES测定[J]. 分析测试学报, 1987,(3):34-37.
郭照斌. 内标法用于Nb₃Si合金中Nb及Si的ICP-AES测定[J]. 分析测试学报, 1987,(3):34-37. DOI：

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<,正,>, Nb,3,Si非晶薄带是超导材料,含Nb～90%、Si～10%。化学分析其中Nb及Si较繁杂,ICP法分析这种材料尚未见报导。本文用ICP法分析Nb,3,Si,采用内标法提高高含量的Nb及常量Si的测定精密度及准确度。毫克量薄带样品于聚四氟乙烯密闭溶样器中用HNO,3,+HF溶样,加入硼酸络合

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