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李道伦, 韩俊英, 范钦敏, 等. X射线荧光分析古钱[J]. 分析测试学报, 1988,(1):54-56.
李道伦, 韩俊英, 范钦敏, 等. X射线荧光分析古钱[J]. 分析测试学报, 1988,(1):54-56. DOI:
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<正> 在X射线荧光分析中,由于荧光发生于样品的表层,因而样品表面状态对分析结果很重要。一般,在X射线荧光分析中,都要把待测物表面加工为光洁而平整的表面。但对古物的研究,不允许对古物作损伤性处理。因而用X射线荧光分析法测定表面粗糙的古物时的精确正>
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