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罗兴华. 表面分析标准参考物质[J]. 分析测试学报, 1988,(4):65-68.
罗兴华. 表面分析标准参考物质[J]. 分析测试学报, 1988,(4):65-68. DOI:
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<正> 表面分析是近十多年来迅速发展的新型分析技术。它被广泛应用于半导体、催化、冶金、腐蚀、钝化、涂膜、粘合、摩损以及晶体生长、渗杂、注入、外延等领域。据统计,表面分析技术已多达五十余种,其中最常用的是俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱正>
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