山东省分析测试中心
扫 描 看 全 文
薛德钧. 波谱仪中漫射X光光子对背景的贡献[J]. 分析测试学报, 1987,(6):30-32.
薛德钧. 波谱仪中漫射X光光子对背景的贡献[J]. 分析测试学报, 1987,(6):30-32. DOI:
DOI:
<正> 在X线显微分析中,背景是一种干扰因素,特别是分析微量元素时,影响就更大。但有时又是一种测量信息,相对能谱仪来说,波谱仪的峰背比高得多,波谱仪接收到的X光光子,绝大部分是经过分光晶体正>
0
浏览量
12
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构