X-荧光光谱法在测定有机物或高分子中金属及若干种非金属元素含量中的应用

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更新时间：2023-07-17

- X-荧光光谱法在测定有机物或高分子中金属及若干种非金属元素含量中的应用
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- 分析测试学报 1989年第4期页码：32-35
- 作者机构：
  
  中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(31960500)
- DOI：
  中图分类号：
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汪月生, 张意颖, 单军, 等. X-荧光光谱法在测定有机物或高分子中金属及若干种非金属元素含量中的应用[J]. 分析测试学报, 1989,(4):32-35.
汪月生, 张意颖, 单军, 等. X-荧光光谱法在测定有机物或高分子中金属及若干种非金属元素含量中的应用[J]. 分析测试学报, 1989,(4):32-35. DOI：

DOI：

本文讨论了用X-荧光光谱法测定高分子络合物中稀土金属元素的含量,有机物中的磷含量及合硅交联树脂中的硅含量。本法具有简便,用量少,又可减少化学法污染环境等优点。这是将X-荧光光谱法扩大用于有机物及高分子成分分析领域的新方法。

X-荧光光谱稀土有机物XRF方法

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