杭州国家海洋局第二海洋研究所
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陶连发. 氮化硅粉中微量杂质金属的ICP-AES测定[J]. 分析测试学报, 1990,(2):80-83.
陶连发. 氮化硅粉中微量杂质金属的ICP-AES测定[J]. 分析测试学报, 1990,(2):80-83. DOI:
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本文论述了应用ICP-AES法测定氮化硅中微量杂质元素的分析技术,考察了样品处理及元素间相互干扰。采用板波模式超声雾化进样、去溶剂技术,ICP-AES法同时测定Si,3,N,4,中Al、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Mo、Sr、Ti、V和Zr十二种杂质元素。各元素相对标准偏差为2.5~9.8%,回收率为84~108%。
氮化硅微量杂质元素感耦等离子体发射光谱
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