质谱同位素稀释法测定U<sub>3</sub>O<sub>8</sub>标样中痕量Th

毕松苓; 孟宪厚

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质谱同位素稀释法测定U₃O₈标样中痕量Th

更新时间：2023-07-17

- 质谱同位素稀释法测定U₃O₈标样中痕量Th
- 暂无标题
- 分析测试学报 1990年第3期页码：1-5
- 作者机构：
  
  核工业部北京第五研究所 ,核工业部北京第五研究所
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毕松苓, 孟宪厚. 质谱同位素稀释法测定U₃O₈标样中痕量Th[J]. 分析测试学报, 1990,(3):1-5.
毕松苓, 孟宪厚. 质谱同位素稀释法测定U₃O₈标样中痕量Th[J]. 分析测试学报, 1990,(3):1-5. DOI：

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摘要

以,230,Th作稀释剂用IDMS测定了U,3,O,8,标样中痕量Th。取样1g,先在9mol/l HCI体系中用阴离子交换法除去大量U及Fe、Pb等杂质,进而以CL5209型萃淋树脂分离Th。本法测Th的检出限为2.4×10,-9,g。分析含Th 0.873 ppm 的U,3,O,3,试样时方法的精密度为±3.3%。

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关键词

IDMSTh230Th234Th示踪萃淋树脂U3O8

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质谱同位素稀释法测定U3O8标样中痕量Th

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