同位素稀释质谱法测定U<sub>3</sub>O<sub>8</sub>中痕量Sm、Eu、Gd和Dy

毕松苓; 孟宪厚

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同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy

更新时间：2023-07-17

- 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy
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- 分析测试学报 1993年第3期页码：41-44
- 作者机构：
  
  核工业北京化工冶金研究院 ,核工业北京化工冶金研究院
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毕松苓, 孟宪厚. 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy[J]. 分析测试学报, 1993,(3):41-44.
毕松苓, 孟宪厚. 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy[J]. 分析测试学报, 1993,(3):41-44. DOI：

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摘要

建立了分析U,3,O,8,中痕量Sm、Eu、Gd和Dy的IDMS法。在一条灯丝上一次涂样完成4个相对含量10,-8,的元素测定。方法较简便,测定含Sm、Eu、Gd和Dy分别为8.90×10,-8,、9.07×10,-8,、8.65×10,-8,和8.47×10,-8,的U,3,O,8,试样,方法精密度分别为±4.2%、±3.5%、±4.8%和±4.1%。本法与其他方法相比结果相符。测Gd,176,〔,160,Dy,16,O〕,+,与,176,〔,160,Gd,16,O〕,+,有叠加。通过测定,160,Dy,+,峰高计算出,176,〔,160,Dy,16,O〕,+,峰高,从而校正,176,〔,160,Gd,16,O〕,+,峰高。

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IDMSU3O2稀土

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