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王以明, 张玉玉, 庞小峰, 等. 硅烷化光纤表面微结构成分的扫描电镜及能谱仪联用表征[J]. 分析测试学报, 2008,(11):1244-1247.
王以明, 张玉玉, 庞小峰, 等. 硅烷化光纤表面微结构成分的扫描电镜及能谱仪联用表征[J]. 分析测试学报, 2008,(11):1244-1247. DOI:
DOI:
采用扫描电镜和能谱仪检测细小的硅烷化光纤表面微结构成分,表征了光纤与3-氨基丙基-三乙氧基硅烷(APTES)的耦合。能谱分析显示,未硅烷化的光纤表面无碳原子,而硅烷化的光纤表面含有碳原子,其碳原子质量分数为13.74%、16.72%,说明在细小光纤表面上耦合了APTES。经扫描电镜与能谱联用表征光纤表面微结构成分发现,不同表面检测微区域,碳的质量分数不同。探讨了硅烷化的光纤与吖啶橙(AO)的相互作用,并考察了酸性介质对其荧光强度的影响。结果表明:硅烷化的光纤与吖啶橙相互作用发出荧光,证明硅烷化的光纤表面有活性基团;经稀盐酸洗涤后,荧光强度减弱,表明光纤表面的活性基团与AO通过非共价键结合。研究表明,两种方法均能表征细小光纤或纳米光纤与硅烷双功能剂的耦合,以及光纤生物传感器敏感元件的靶分子检测。
光纤硅烷化扫描电镜能谱分析微结构成分
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