中国上海测试中心 ,复旦大学 ,复旦大学
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[J]. (3):43-46(1987)
DOI:
[J]. (3):43-46(1987) DOI:
<正> 现代表面分析一般用电子、离子、光子、中子等粒子作探针照射到样品表面再检测其与表面作用后发射出的各种粒子。不同的探针,不同的检测粒子构成各种各样的表面分析技术。但这些技术都有共同的缺点:作为探针的入射粒子与表面发生相互作用会损伤表面,使所测的结果是表面已变性的非实况分析;此外目前大多数表面分析技术只正>
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