中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系 ,中国科学技术大学材料科学系
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[J]. (4):32-35(1989)
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[J]. (4):32-35(1989) DOI:
本文讨论了用X-荧光光谱法测定高分子络合物中稀土金属元素的含量,有机物中的磷含量及合硅交联树脂中的硅含量。本法具有简便,用量少,又可减少化学法污染环境等优点。这是将X-荧光光谱法扩大用于有机物及高分子成分分析领域的新方法。
X-荧光光谱稀土有机物XRF方法
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