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双光子显微镜二次谐波成像条件探索及其应用
双光子显微镜二次谐波成像条件探索及其应用
Exploration and Application of Second Harmonic Imaging Using Two-photon Microscope
- 分析测试学报 2025年44卷第3期 页码：521-526
DOI： 10.12452/j.fxcsxb.240621160
修回：2024-08-27 ，
录用：2024-09-30
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