利用正电子湮没谱（ＰＡＳ）分析技术对超细粉α＿Ａｌ２Ｏ３陶瓷基片（板）的烧结反应过程进行了检测研究。对在４种不同的温度下得到的烧结体作ＰＡＳ分析研究，发现正电子寿命敏感于烧结温度以及不同温度下的微结构效应。根据ＰＡＳ数据分析，对超细粉陶瓷烧结体的微结构缺陷及温度－相变关系作了初步探索。