上海测试技术研究所 ,上海测试技术研究所 ,上海测试技术研究所
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[J]. (5):41-45(1985)
DOI:
[J]. (5):41-45(1985) DOI:
<正> 聚焦法是一种最新的非破坏性的测量光纤预制棒或光纤折射率剖面的方法。它是由D.Marcuse于1979年提出的。本文用BASIC语言编制了一套该方法的计算程序,所得结果与D.Marcuse的结果很好地相吻合。测量的再现性优于1%。一、聚焦法的基本原理正>
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