广州有色金属研究院 ,广州有色金属研究院
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[J]. (3):55-56(1986)
DOI:
[J]. (3):55-56(1986) DOI:
<正> 纯钨中杂质测定,国内外主要采用电弧发射光谱法,As的测定多以2349.84 A作分析线,测定下限约为0.001%,该谱线因受W2349.82A重迭干扰,故测定下限与准确度均难以满足工艺要求。ICP发射光谱对As、Sb、Pb等元素检正>
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