中国科学院高能物理研究所 ,中国科学院高能物理研究所 ,中国科学院高能物理研究所 ,中国科学院高能物理研究所 ,中国社会科学院考古研究所
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[J]. (1):54-56(1988)
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[J]. (1):54-56(1988) DOI:
<正> 在X射线荧光分析中,由于荧光发生于样品的表层,因而样品表面状态对分析结果很重要。一般,在X射线荧光分析中,都要把待测物表面加工为光洁而平整的表面。但对古物的研究,不允许对古物作损伤性处理。因而用X射线荧光分析法测定表面粗糙的古物时的精确正>
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