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[J]. (6):30-32(1987)
DOI:
[J]. (6):30-32(1987) DOI:
<正> 在X线显微分析中,背景是一种干扰因素,特别是分析微量元素时,影响就更大。但有时又是一种测量信息,相对能谱仪来说,波谱仪的峰背比高得多,波谱仪接收到的X光光子,绝大部分是经过分光晶体正>
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