无锡叶片厂 ,无锡叶片厂
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[J]. (5):36(1988)
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[J]. (5):36(1988) DOI:
<正> 测定铪中杂质元素的光谱分析方法报道甚少,国内多采用氯化银载体法。工厂日常分析似嫌不便。本试验用焦磷酸钠作载体,试样直接压入普通电极孔穴,经长期配合生产令人满意。测定下限为Al、Co、Cr、Mn、Mo、Pb、Sn、V 0.0005%、Fe、Mg、Ni、Ti 0.001%、Cu.0.003%、单次测定均方误差正>
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