本文讨论了用Ｘ射线荧光光谱（ＸＲＦ）检验标准物质中痕量元素的均匀性时，可根据峰和背景强度确定能否用ＸＲＦ进行检验，以及相应于一定精密度要求的浓度下限（可检浓度），并以大米和岩石标准物质为例，计算了Ｃｕ的可检浓度。还指出，作为均匀性检验量应采用浓度或净强度，尤其是对于痕量元素。最后说明了样品基体对可检浓度和最小样品量的影响。