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信息产业部电子第四十六研究所!天津300192,上海大学理学院物理系,上海,201800
Published:1999
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[J]. 1999, (5): 25-28.
DOI:
[J]. 1999, (5): 25-28. DOI:
使用在试样架上附加有Φ旋转装置的X射线粉末衍射仪
对Si(001)晶片和In1 -xAlxAs/GaAs一维超点阵样品
进行了一些X射线多重衍射实验研究
初步解释了所获得的多重衍射花样
得到了一些有关的结构信息。
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