使用X射线荧光光谱法测定预焙阳极中的微量和痕量元素

以粉末压片法制样

选用瑞士R&D碳素公司的C-300系列标准样品

并用仪器软件Super Q中提供的飞利浦模式的经验系数(Classic)和铑(Rh)靶康普顿散射线内标法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应

通过充分研磨样品消除颗粒效应

使用Magix(PW2403)X射线荧光光谱仪对样品中的F、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb、Sr和Sn共22个元素进行测定

11次测定的相对标准偏差小于10%

多数元素的检出限小于1μg.g-1。用R&D标准样品的混合样验证

测量结果与标准值的误差在化学分析允许范围内。