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1. 长春工业大学化学工程学院
2. 中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室
Published:2009
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[J]. 2009, (3): 333-336.
DOI:
[J]. 2009, (3): 333-336. DOI:
采用掠入射X射线衍射方法对α相均聚辛基芴(PFO)薄膜的结晶性进行了表征
并探讨了不同仪器构型对实验结果的影响。结果表明
与常规X射线衍射方法相比
掠入射X射线衍射可以消除或减小基底的干扰并增大薄膜的衍射信号
能明显地测量出α相PFO薄膜的各衍射峰。采用较大狭缝的测试系统得到的信号较大
但是仪器的宽化因子也随之增大
通过比较发现利用Scherrer公式计算微晶尺寸时求解真实宽化因子使用公式B2-b2较好。
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