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西南科技大学分析测试中心
Published:2009
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[J]. 2009, (1): 7-11.
DOI:
[J]. 2009, (1): 7-11. DOI:
采用分析纯FeCl3.6H2O和NH3.H2O为主要原料
控制不同n(Cu2+)/n(Fe3+)
利用均匀共沉淀法制备了Cu掺杂的α-Fe2O3纳米粉体。通过原子吸收光谱(AAS)和X射线衍射(XRD)分析了样品中Cu2+的掺杂量
并研究了掺杂对α-Fe2O3晶胞参数、晶粒度等的影响。结果表明
Cu掺杂α-Fe2O3仍为刚玉型结构
但晶胞参数a、b、c表现出增大趋势;Cu掺杂使α-Fe2O3晶体结构产生替位杂质缺陷
增大了α-Fe2O3的晶核生长活化能
使其晶粒度减小;随着Cu掺杂量的增大
α-Fe2O3的晶核生长活化能逐渐增大
晶粒度逐渐减小。该研究为α-Fe2O3半导体材料的性能及应用研究提供了指导。
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