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国家地质实验测试中心
Published:2010
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[J]. 2010, (6): 578-583.
DOI:
[J]. 2010, (6): 578-583. DOI:
采用X-射线荧光(XRF)、电感耦合等离子体光谱和质谱(ICP-AES/MS)技术
研究了超细地质分析样品(约800目)的分析方法和条件。结果表明
对于超细样品
XRF可直接粉末压片制样而不必高温熔融制样进行高精度的主、次组分测定;ICP-AES/MS的取样量可降至2
5
mg(仅为-200目样品的1/20
1
/50)
试剂用量大大减小
样品更易消解
不仅可节约成本
降低能耗
还显著减小了对环境的影响。讨论了发展超细样品分析的意义及对地质分析技术发展的可能影响。
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