<,正,>, 上海市测试技术研究所研制的三种X射线衍射α—SiO,2,标样于84年1月通过鉴定,公开发放。三种标样为: 1.X射线衍射仪校正及鉴别用的α—SiO,2,标样。粒度,<,20μm,纯度,>,99.99%,点阵常数a,0,=4.9132(?)±0.0001(?),C,0,=5.4051(?)±0.0001(?)(25℃)。可作为鉴别X射线衍射仪分辨率、仪器角度标定和精确测定未知样品点阵常数的内标(测量误差