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1. 杭州大学化学系,杭州,310028
2. ,杭州,310028
纸质出版:1993
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王国顺, 彭图治, 沈报恩, 瞿丽曼, 朱沛林. 锂皂石修饰碳糊电极测定痕量铜的研究[J]. 分析测试学报, 1993,(6):67-70.
王国顺, 彭图治, 沈报恩, 瞿丽曼, 朱沛林. 锂皂石修饰碳糊电极测定痕量铜的研究[J]. 1993, (6): 67-70.
王国顺, 彭图治, 沈报恩, 瞿丽曼, 朱沛林. 锂皂石修饰碳糊电极测定痕量铜的研究[J]. 分析测试学报, 1993,(6):67-70. DOI: 10.19969/j.fxcsxb.1993.06.017.
王国顺, 彭图治, 沈报恩, 瞿丽曼, 朱沛林. 锂皂石修饰碳糊电极测定痕量铜的研究[J]. 1993, (6): 67-70. DOI: 10.19969/j.fxcsxb.1993.06.017.
报道了锂皂石修饰碳糊电极测定痕量铜
在含0.001 mol/L KCl Cu
+2
的试液中
开路富集后介质交换到0.05mol/L KCl中
用微分脉冲伏安法测定
检测限为7.0 ng/mL。常见阳离子基本不干扰
可不经预先分离直接测定精金矿中铜的含量
结果良好。还探讨了Cu
在锂皂石修饰碳糊电极上的反应机理。
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