同位素稀释质谱法测定U<sub>3</sub>O<sub>8</sub>中痕量Sm、Eu、Gd和Dy

毕松苓; 孟宪厚

doi:10.19969/j.fxcsxb.1993.03.009

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同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy

更新时间：2026-07-27

- 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy
- 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy
- 分析测试学报 1993年第3期页码：41-44
- 作者机构：
  
  核工业北京化工冶金研究院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.19969/j.fxcsxb.1993.03.009
  中图分类号：
- 纸质出版：1993
- 稿件说明：
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毕松苓, 孟宪厚. 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy[J]. 分析测试学报, 1993,(3):41-44. DOI: 10.19969/j.fxcsxb.1993.03.009.

毕松苓, 孟宪厚. 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy[J]. 1993, (3): 41-44. DOI: 10.19969/j.fxcsxb.1993.03.009.
毕松苓, 孟宪厚. 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy[J]. 分析测试学报, 1993,(3):41-44. DOI: 10.19969/j.fxcsxb.1993.03.009. DOI：

毕松苓, 孟宪厚. 同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy[J]. 1993, (3): 41-44. DOI: 10.19969/j.fxcsxb.1993.03.009. DOI：

摘要

建立了分析U

中痕量Sm、Eu、Gd和Dy的IDMS法。在一条灯丝上一次涂样完成4个相对含量10

-8

的元素测定。方法较简便

测定含Sm、Eu、Gd和Dy分别为8.90×10

-8

、9.07×10

-8

、8.65×10

-8

和8.47×10

-8

的U

试样

方法精密度分别为±4.2%、±3.5%、±4.8%和±4.1%。本法与其他方法相比结果相符。测Gd

176

〔

160

O〕

与

176

〔

160

O〕

有叠加。通过测定

160

峰高计算出

176

〔

160

O〕

峰高

从而校正

176

〔

160

O〕

峰高。

Abstract

关键词

Keywords

references

孟宪厚.同位素质谱与无机质谱分析[J].分析试验室,1991(04).

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同位素稀释质谱法测定U3O8中痕量Sm、Eu、Gd和Dy

同位素稀释质谱法测定U3O8中痕量Sm、Eu、Gd和Dy

DOI：10.19969/j.fxcsxb.1993.03.009

摘要

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同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy

同位素稀释质谱法测定U₃O₈中痕量Sm、Eu、Gd和Dy