Este artículo emplea tecnología de espectrometría de masas por resonancia ciclotrónica de iones con transformada de Fourier (FT-ICR-MS) para analizar los componentes desconocidos en un sellador de aluminio (tratamiento de superficie), encontrando componentes como naftenatos de sodio, acetato de níquel, benzoato de sodio, entre otros. Basándose en los datos precisos de iones moleculares obtenidos por FT-ICR-MS, así como en la estructura isotópica fina, se dedujo la fórmula molecular del ion desconocido; junto con el análisis por espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) y cromatografía de gases-espectrometría de masas (GC-MS), se inferió la estructura del componente desconocido, confirmándose que incluye naftenatos de sodio y otros componentes. El artículo también encontró en el espectro de masas dos grupos de iones en clusters con diferencias de masa de 62: 234.8, 296.8, 358.9 y 410.7, 472.7, 534.7; combinando análisis de espectrometría secundaria, se dedujo que estos dos grupos de iones son iones cuasi-moleculares generados por la adición de acetato de níquel con acetato y benzoato, además de la generación de iones dímeros y trímeros, lo que razonablemente asignó la pertenencia de los iones desconocidos en el espectro. Este estudio ofrece una nueva idea y método para el análisis de sustancias desconocidas en productos químicos e innovación de productos, y descubrió la regla de ionización de iones metálicos de níquel combinados con ácidos orgánicos en el espectro de masas.

FT-ICR-MS; sellador de aluminio (tratamiento de superficie); acetato de níquel; análisis de desconocidos