Para abordar el problema del tiempo y esfuerzo que requieren los métodos tradicionales de preparación previa para el análisis de polvo de fibra de vidrio, este artículo establece un método cuantitativo rápido de múltiples elementos utilizando un soplador de plasma microondas de ablación directa sólida y espectroscopía de emisión atómica (MPT-OES) para los elementos Na, Mg, Al, Si, K y Fe en polvo de fibra de vidrio. Se utilizaron 9 muestras de polvo de fibra de vidrio con diferentes composiciones para optimizar sistemáticamente parámetros experimentales clave como la potencia de microondas, la distancia y el ángulo entre el plasma y la muestra, y el flujo de gas de trabajo. Se estudió el proceso de ablación y excitación de diferentes elementos mediante el análisis de señales espectrales temporales. Se compararon los datos espectrales originales, los modelos de corrección espectral basados en el conocimiento físico del plasma y los modelos de regresión de vectores de soporte en términos de rendimiento cuantitativo. Los resultados mostraron que los parámetros experimentales optimizados mejoran significativamente la eficiencia de excitación de elementos refractarios como Si y Al; la estrategia de integración de ventana temporal completa suaviza los procesos no estacionarios y reduce el impacto de las diferencias en la excitación de diferentes elementos, disminuyendo eficazmente la desviación estándar relativa de las mediciones; el modelo de regresión de vectores de soporte mostró un mejor rendimiento cuantitativo, con un error relativo de predicción inferior al 8 % para todos los elementos objetivo y desviación estándar relativa de la medición inferior al 7 %. Este método es sencillo en la preparación de muestras y rápido en el análisis, satisfaciendo la demanda de detección precisa y rápida de múltiples elementos en polvo de fibra de vidrio, y proporciona una nueva vía técnica para el análisis directo de polvos sólidos de alta dureza, alto punto de fusión y difícil disolución.

antorcha de plasma microondas (MPT); espectroscopía de emisión atómica (OES); ablación directa sólida; regresión de vectores de soporte