Использованы синтетические стандартные образцы для количественного анализа следовых количеств йода в микро-фторапатите с помощью метода вторичной ионной масс-спектрометрии (SIMS). Представлено линейное уравнение, связывающее концентрацию йода с относительной интенсивностью его вторичных ионов. Микрообластный анализ SIMS осадочного фторапатита с различными типами структуры показал, что микро-фторапатит с хорошо выраженными игольчатыми кристаллами содержит очень низкое количество йода; йод в основном концентрируется в биогенном ультрамелком клубочковом фторапатите. Неравномерное распределение йода в фторапатитовых горных породах обусловлено их ультрамелкозернистой структурой. Анализ микрообластей SIMS глубоко выявил особенности размещения йода в йодоносных фторапатитовых породах. Этот метод также может применяться для изучения галогенов в биологических костях, окаменелостях и других фосфатных образцах.

йод;фторапатит;SIMS;микроанализ