Foram utilizados padrões sintéticos para a análise quantitativa de traços de iodo em fluorapatita microestrutural por sonda iônica secundária (SIMS), apresentando uma equação linear que relaciona a concentração de iodo com a intensidade relativa dos seus íons secundários. A análise micro-regional SIMS de fluorapatita sedimentar com diferentes tipos de microestrutura mostrou que a fluorapatita microestrutural com cristais em forma de agulha contém muito pouco iodo, que se concentra principalmente na fluorapatita ultramicroscópica biogênica tipo bagas. A distribuição desigual de iodo nas rochas fosfáticas é controlada pela sua microestrutura ultrafina, e a análise micro-regional SIMS revelou em profundidade as características da ocorrência de iodo em rochas fosfáticas ricas em iodo. Este método também pode ser aplicado ao estudo de halogênios em amostras de fosfatos biológicos, como ossos e fósseis.

iodo;fluorapatita;SIMS;análise microscópica