A espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS) é um método importante para a análise do estado químico da superfície, amplamente utilizado em vários campos da pesquisa científica, impulsionando significativamente o desenvolvimento científico. No entanto, os espectros de compostos de metais de transição e de terras raras são complexos, apresentando múltiplos desdobramentos e alargamentos dos picos, o que dificulta a análise do estado químico. Este artigo apresenta principalmente os espectros padrão de compostos de metais de transição e de terras raras retirados de bases de dados ou manuais, descrevendo métodos de análise do estado químico — método de decomposição de picos, método de características de picos satélites, método de pico Auger ou correção de parâmetros Auger, com enfoque especial no cálculo da correção dos parâmetros Auger. Para os compostos de terras raras, há poucas bases de dados e espectros estreitos padrão disponíveis; muitos estados elementares e compostos possuem picos vibracionais únicos, os espectros são extremamente complexos e difíceis de analisar, explicado com exemplos de La e Ce. Na análise dos estados de valência mistos, destaca-se o método dos mínimos quadrados não lineares (NLLSF), que constrói funções de forma de pico pré-definidas a partir da função espectral real, incluindo picos de perda de energia, picos satélites, picos com múltiplos desdobramentos, permitindo um ajuste preciso da forma dos picos e facilitando o processamento confiável e simples de espectros com coexistência de estados químicos mistos. Os picos Ni 2p e F KLL apresentam regiões de sobreposição entre os elementos Ni, Co, Mn e Fe, que podem ser separados substituindo o alvo do ânodo, deslocando o pico Auger e destacando-o do pico principal de fotoelétrons, facilitando a análise posterior dos dados. Antes da análise dos dados, deve-se verificar se há espectros padrão disponíveis em sites de bases de dados; para elementos sem espectros estreitos padrão, é necessário realizar uma análise objetiva, razoável e autoconsistente, combinando espectros estreitos de outros elementos e resultados qualitativos e semiquantitativos da amostra, evitando ajustar picos com base em expectativas experimentais ou suposições.

Espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS);análise do estado químico;análise de estados de valência mistos;correção de parâmetros Auger;ajuste não linear de mínimos quadrados (NLLSF);compostos de metais de transição;compostos de terras raras