본 논문은 푸리에 변환 이온 사이클로트론 공명 질량분석기(FT-ICR-MS) 기술을 이용하여 알루미늄 재료 밀봉제(표면 처리제) 내 미지 성분을 분석하였으며, 나프탈렌 술포네이트 나트륨, 초산 니켈, 벤조산 나트륨 등의 성분을 발견하였다. FT-ICR-MS로 얻은 정확한 분자 이온 데이터와 동위원소 미세 구조를 기반으로 미지 이온의 분자식을 추정하였고, 유도 결합 플라즈마 질량분석기(ICP-MS)와 가스 크로마토그래피-질량분석기(GC-MS) 분석을 결합하여 미지 성분의 구조를 추론하여 나프탈렌 술포네이트 나트륨 등의 성분임을 확인하였다. 또한 질량 스펙트럼에서 질량 수 차이가 62인 두 그룹의 클러스터 이온(234.8, 296.8, 358.9 및 410.7, 472.7, 534.7)을 발견하였으며, 2차 질량 분석 결과를 토대로 이 두 그룹의 이온이 초산 니켈과 초산, 벤조산의 부가로 생성된 준분자 이온임을 추론하였고, 다이머 및 트리머 이온도 생성되어 미지 이온의 소속을 합리적으로 해석하였다. 본 연구는 화학 제품 중 미지 물질 분석 및 제품 혁신에 새로운 사고와 방법을 제공하였으며, 니켈 금속 이온이 유기산과 결합했을 때 질량 분석에서의 이온화 규칙을 발견하였다.

푸리에 변환 이온 사이클로트론 공명 질량분석기(FT-ICR-MS); 알루미늄 밀봉제(표면 처리제); 초산 니켈; 미지 물질 분석