Analyse quantitative par SIMS de traces d'iode dans la fluorapatite sédimentaire

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摘要

Des étalons synthétiques ont été utilisés pour l'analyse quantitative des traces d'iode dans de la fluorapatite microscopique par sonde ionique secondaire (SIMS). Une équation linéaire reliant la concentration en iode à l'intensité relative des ions secondaires a été établie. L'analyse micro-régionale SIMS de fluorapatite sédimentaire présentant différents types de microstructures a montré que la fluorapatite microscopique à cristaux en forme d'aiguilles contient très peu d'iode, l'iode étant principalement enrichi dans la fluorapatite à ultrastructure en myrtille d'origine biologique. La distribution inégale de l'iode dans les roches à fluorapatite est contrôlée par sa microstructure ultra-fine. L'analyse micro-régionale SIMS a révélé en profondeur les caractéristiques de la présence d'iode dans les roches fluorapatitiques riches en iode. Cette méthode peut également être utilisée pour l'étude des halogènes dans des échantillons de phosphates biologiques tels que les os et les fossiles.

关键词

iode;fluorapatite;SIMS;analyse microscopique

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