Es wurde eine Methode zur Herkunftsbestimmung von kultivierten Shiitake-Pilzen basierend auf der Nahinfrarotspektroskopie entwickelt. Mit einem Nahinfrarotspektrometer wurden getrocknete Shiitake-Proben aus verschiedenen Hauptanbauregionen gescannt, um die Nahinfrarot-Reflexionsstreuspektren der Proben zu erhalten. Mithilfe der partiellen kleinsten Quadrate Diskriminanzanalyse (PLSDA) wurden Herkunftsmodelle für Shiitake aus den drei Provinzen Jilin, Hubei und Fujian erstellt. Die Modelle wurden durch Spektralvorverarbeitung und Wellenlängenauswahl optimiert und schließlich mit Vorhersageproben validiert. Die Ergebnisse zeigen, dass Modelle basierend auf den Rohspektren eine vorläufige Herkunftsbestimmung ermöglichen und dass durch Spektralvorverarbeitung zum Entfernen von Hintergrundinformationen sowie durch Auswahl spezifischer Wellenlängen die Vorhersagegenauigkeit weiter verbessert werden kann. Diese Methode bietet einen neuen Ansatz zur Echtheitsrückverfolgbarkeit der Herkunft von Shiitake-Pilzen und hat eine wichtige praktische Bedeutung für die Entwicklung der Shiitake-Industrie.

Shiitake; Herkunftsrückverfolgbarkeit; Nahinfrarotspektroskopie; Chemometrie