Analyse der räumlichen Verteilung von Ag-Ultrakleinteilchen, die durch Sputterabscheidung mittels TEM hergestellt wurden

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摘要

Eine direkte Untersuchung der Ag-Ultrakleinteilchen, die mittels ionisierter Sputterabscheidung auf einer Kohlenstofffolie in Argongas abgeschieden wurden, wurde mit einem Transmissionselektronenmikroskop durchgeführt. Die Beobachtung und Analyse in Hellfeldabbildung und Elektronenbeugung zeigten, dass bei einem Abstreuwinkel von 60° die Korngröße, Korngrößenverteilung, Morphologie und Phasenstruktur der gebildeten Ultrakleinteilchen je nach Sammelwinkel unterschiedlich sind.

关键词

Ultrakleinteilchen;Silber;Transmissionselektronenmikroskop

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