Synthetische Standardproben wurden verwendet, um Spuren von Jod in mikrokristalliner Fluorapatit mittels sekundärer Ionen-Massenspektrometrie (SIMS) quantitativ zu analysieren. Es wurde eine lineare Gleichung erstellt, die die Jodkonzentration mit der relativen Intensität seiner Sekundärionen verbindet. Mikrobereichsanalysen mittels SIMS an sedimentärer Fluorapatit mit unterschiedlichen Mikrotopographien zeigten, dass mikrokristalliner Fluorapatit mit gut ausgebildeten nadeligen Kristallen sehr wenig Jod enthält, das Jod hauptsächlich in biogenem ultramikroskopischem Beerenophosphatit angereichert ist. Die ungleichmäßige Verteilung von Jod im Phosphatgestein wird durch deren ultrafeine Mikrostruktur bestimmt. Die Mikrobereichsanalyse mittels SIMS deckte detailliert die Jodvorkommen in jodreichen Phosphatgesteinen auf. Diese Methode ist ebenfalls für die Untersuchung von Halogenen in biologischen Phosphatproben wie Knochen und Fossilien anwendbar.

Jod;Fluorapatit;SIMS;Mikroanalyse