Um das zeit- und arbeitsintensive Vorbehandlungsproblem bei herkömmlichen Analysemethoden für Glasfasermpulver zu lösen, wurde in dieser Arbeit eine quantitative Mehrelementmethode mittels direkter Feststoffablation mit Mikrowellenplasmalanze-Atomemissionsspektroskopie (MPT-OES) etabliert, mit der Na, Mg, Al, Si, K und Fe in Glasfasermpulver schnell bestimmt werden können. Neun Proben von Glasfasermpulver mit unterschiedlichen Zusammensetzungen dienten als Untersuchungsobjekte, und wesentliche Versuchsparameter wie Mikrowellenleistung, Abstand und Winkel zwischen Plasma und Probe sowie Arbeitsgasfluss wurden systematisch optimiert. Der Ablations- und Anregungsprozess verschiedener Elemente wurde durch zeitliches Spektrumsignalanalyse untersucht. Es wurden die ursprünglichen Spektraldaten, spektrale Korrekturmodelle basierend auf Plasma-Physik und Supportvektorregressionsmodelle hinsichtlich ihrer quantitativen Leistung verglichen. Die Ergebnisse zeigen, dass die optimierten Versuchsparameter die Anregungseffizienz schwer schmelzbarer Elemente wie Si und Al deutlich verbessern; die Integration über das vollständige Zeitfenster glättet instationäre Prozesse und verringert den Einfluss von Anregungsunterschieden verschiedener Elemente, wodurch die relative Standardabweichung der Messungen effektiv gesenkt wird; das Supportvektorregressionsmodell zeigt gute quantitative Leistung mit relativen Vorhersagefehlern aller Zieltypen unter 8 % und relativen Standardabweichungen der Messung unter 7 %. Die Methode bietet eine einfache Probenvorbereitung und schnelle Analyse und erfüllt die Anforderungen einer genauen und schnellen Mehrelementanalyse von Glasfasermpulvern, wobei sie einen neuen technischen Weg für die direkte Analyse von festen Pulvern mit hoher Härte, hohem Schmelzpunkt und schwerer Löslichkeit bietet.

Mikrowellenplasmalanze (MPT); Atomemissionsspektroskopie (OES); direkte Feststoffablation; Supportvektorregression