مطياف الكتلة بالبلازما المقترنة تحريضيًا (Inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS) هو التقنية الأكثر استخدامًا في تحليل العناصر النزرة، على الرغم من أن ICP-MS يظهر العديد من المزايا في تحليل العناصر، إلا أنه يواجه العديد من المشاكل عند الكشف عن عينات ذات مصفوفة معقدة. عادةً ما تؤدي تأثيرات المصفوفة الناتجة عن المصفوفة المعقدة إلى تثبيط أو تعزيز إشارة المحلّل. يتوقف مدى تأثير المصفوفة على التركيز المطلق لمكونات المصفوفة، كما يتعلق بنوع المصفوفة، وخصائص المحلّل الفيزيائية والكيميائية، وشروط الجهاز. تستعرض هذه الورقة بعض تأثيرات المصفوفة الشائعة في ICP-MS وعوامل تأثيرها، بما في ذلك المصفوفة العنصرية، والمصفوفة المحتوية على الكربون، والمصفوفة الحمضية، وشروط الجهاز. كما تبحث في الأسباب المحتملة لحدوث تأثيرات المصفوفة، وتلخص النظام الدولي والمحلي لطرق إزالة تأثير المصفوفة مثل طرق المعالجة المسبقة للعينات، ونظام إدخال العينات، وتحسين معلمات الجهاز، وطريقة المعايرة، كما تستعرض الأبحاث المستقبلية في مجال تأثير المصفوفة.

مطياف الكتلة بالبلازما المقترنة تحريضيًا (ICP-MS);تأثير المصفوفة;طرق المعالجة المسبقة للعينات;نظام إدخال العينات;معلمات الجهاز;طريقة المعايرة;مراجعة شاملة