我们用谱仪能量传输函数修正的相对原子灵敏度因子获得了ＸＰＳ定量数据。通过将定量结果与结合能的化学位移相结合的方法，分析了ＣｄＴｅ表面的两个氧化过程，结果表明，机械抛光样品表面的构成是：６６％ＣｄＴｅ，２８．９％的Ｃｄ（ＯＨ）２和５．１％ＴｅＯｘ（Ｘ＞２），而经化学抛光的表面构成是∶８４．４％的ＴｄＴｅＯ４和１５．６％ＴｅＯｘ（Ｘ＞１）。