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天津电子工业部第四十六研究所
纸质出版日期:1996
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任殿胜, 严如岳, 李岩松, 刘咏梅, 华庆恒. 自润滑轴承失效原因的XPS分析[J]. 分析测试学报, 1996,(1).
任殿胜, 严如岳, 李岩松, 刘咏梅, 华庆恒. 自润滑轴承失效原因的XPS分析[J]. 分析测试学报, 1996,(1). DOI:
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用X射线光电子能谱仪(XPS)对失效前后的自润滑轴承各部件表面的化学组成及其状态进行了分析,结果表明失效前后表面性质差异较大,失效是由于自润滑膜破损耗尽所致。
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